採用自我詢問與診斷功能,確保感測器資料完整性

作者:Bill Schweber

資料提供者:DigiKey 北美編輯群

感測器與物聯網 (IoT) 技術的觸角正快速延伸到工業、商業、甚至消費性市場。隨著技術的發展,確保相關感測器及其前端介面電路的資料完整性之需求越來越高。

以單一介面 IC 支援多個感測器時,資料完整性的潛在問題將變得更為嚴重,原因是一旦這個單一 IC 出問題,就可能會破壞一組讀數。這可能導致對感測到的狀況作出錯誤評估,甚至可能會讓系統作出不適當或甚至危險的動作。

本文將探討在「感測器至處理器」的訊號鏈中,導致不同硬故障與軟故障 (暫態),以及感測器讀數不準確的原因。也將介紹 Analog Devices 的高度整合 IC,並展示這款元件如何透過診斷感測器、其本身及數位 I/O 來克服這些問題。

感測器至處理器的訊號路徑

影響任何感測器讀數完整性的終極因素,都是始於圖 1 所示訊號鏈的三大主要功能區塊。這些區塊分別是:

  1. 感測器及其引線
  2. 訊號調整 IC 中的類比前端,以類比數位轉換器 (ADC) 為中心
  3. 連至系統處理器的數位 I/O

基本的感測器至處理器訊號路徑圖

圖 1:基本的感測器至處理器訊號路徑原則上只包含幾個基本功能,但實用的介面 IC 可提供許多額外功能與特性。(圖片來源:DigiKey)

在多通道系統中,通常混合使用不同類型的感測器,如熱電偶、電阻溫度偵測器 (RTD) 以及壓力感測器。感測器也可能會發生故障,或者其互連引線可能會形成開路,或與相鄰引線、電軌或地線形成短路。

有些類型的感測器,在引線發生故障時會立即顯現出來,此時讀數會顯示「超出刻度範圍」。相反地,有些故障模式產生的訊號看似合理,但實際上卻不準確。此外,RTD 等有些感測器需要外部激勵電流,而且此電流必須在設定範圍內才會產生有效讀數。基於這些理由,必須對感測器及類比前端之間的訊號路徑進行連續性測試,以及檢查訊號是否維持在允許的上下限之間,並且建議使用不會受到 ADC 潛在問題影響的類比電路。

這樣不僅可以提供準確讀數,而且系統決策演算法可以依據這些讀數採用可信度極高的來源資料。

然而,所有這些額外的檢查與平衡都意味著更多的元件、更大的覆蓋區,以及更長的設計時間。

自我詢問式 IC 可確保感測器資料的完整性

Analog Devices 推出 AD7124-8BCPZ-RL7 這款以感測器為主的 ADC 與介面,其功能遠超過基本的訊號調整與轉換,能提高資料完整性,且不會對設計時間和覆蓋區有所影響,可滿足需求。此產品包含多個訊號及自我診斷功能,可確保資料完整性。

Analog Devices 的 AD7124 以感測器為主的 ADC 與介面示意圖

圖 2:AD7124 是以感測器為主的 ADC 與介面,其功能遠超基本的訊號調整與轉換,內含多個訊號及自我診斷相關功能,可確保資料完整性。(圖片來源:Analog Devices)

AD7124 是四通道、低雜訊、低功率、24 位元的三角積分 (Σ-Δ) 元件。取樣率範圍從略高於每秒 1 個樣本 (對許多類別的感測器及相關應用已經夠用) 一直到每秒 19,200 個樣本。在最低取樣率下,此元件耗用的電流為 255 μA。由於其設計強調低雜訊 (低於 25 nV rms),而且內部參考電壓的偏移較低 (10 ppm/°C),這款元件讀數的準確度得到提升。

AD7124 本身提供 32 引線的 LFCSP 封裝和 24 引線的 TSSOP 封裝。其數位 I/O 具有相當的靈活性,可支援 3 線與 4 線 SPI、QSPI、MICROWIRETM 以及 DSP 相容介面。

AD7124 使用兩項技術解決前述的感測器引腳問題,分別是訊號限制警報以及斷線電流偵測。訊號限制警報使用過壓/欠壓警報監控器,檢查四對類比輸入連線中每個連線的絕對電壓 (圖 3)。這個電壓必須在定義的範圍內,才能滿足規格書的要求。

感測器基本驗證示意圖

圖 3:使用訊號限制警報對感測器引線進行基本驗證時,會使用具有固定最小/最大設定值的硬體式比較器。(圖片來源:Analog Devices)

斷線電流偵測使用一對互補的可編程流入與流出電流。將預先定義的電流對作為感測器引線的流入與流出電流,AD7124 便能夠驗證其完整性 (圖 4)。全開或全關的電流將切至所選的待測類比輸入線對。

將預先定義的電流對作為流出與流入電流的示意圖

圖 4:將預先定義的電流對作為感測器引線的流入與流出電流,AD7124 便能夠驗證其完整性。(圖片來源:Analog Devices)

滿量程 (或者接近滿量程) 的讀數表示前端感測器為開路。若測得的電壓為 0 V,則可能表示傳感器發生短路。錯誤暫存器會設置一個對應的標示位元,表明所發生的錯誤及錯誤類型。

最後,若使用者在應用中提供外部參考電壓 (通常是透過 RTD 或應變計完成),而不是使用內部參考電壓,AD7124 會檢查任何外部轉換參考電壓是否正確。

驗證前端和 ADC

雖然外部感測器及其引線是最有可能發生問題的地方,但確認前端/轉換 IC 本身的運作還是非常重要。可能超出規格或完全失效的功能包括:

  • 內部的 ADC 參考電壓
  • 可編程增益放大器 (PGA);用於放大輸入訊號,以匹配 ADC 跨度,獲得最高解析度
  • 低壓降穩壓器 (LDO);用於提供所需的感測器激磁
  • IC 內部電軌
  • ADC 本身

為了測試訊號鏈的類比部分,AD7124 會觸發硬體與韌體式自測;隨後產生 20 mV 的訊號,而此訊號可在內部傳送到四個差動輸入通道的任何一個,然後再進行數位化。這樣做的目的有幾個:確認輸入通道多工器以及 ADC 的基本運作;透過變更 PGA 的增益設定值並檢查產生的 ADC 讀數,對 PGA 進行評估。

ADC 也可能是問題的來源之一。AD7124 採用完善的 Σ-Δ 轉換器架構,內含 1 位元調變器以及必備的數位濾波器。若要完整測試 ADC 的效能,需採用類比與數位技術。

在 AD7124 中,若調變器輸出包含 20 個連續的 1 或 0,則表示調變器對一軌或另一個軌已達飽和,而且會設置一個錯誤標示位元。同樣地,IC 會檢查 ADC 偏移係數在自我啟動的偏移校正後是否落在 0x7FFFF 和 0xF80000 之間。若在此範圍之外,就會再設置一個錯誤標示位元。最後,在滿量程校正期間,數位濾波器的任何溢位都會再設置一個錯誤標示位元。

另外,內部與外部電源及電軌也可能是問題的來源之一。許多感測器都需要少量的激磁電力,而此電力通常由類比前端 IC 的小型低雜訊 LDO 提供。

AD7124 使用兩種方式檢查 LDO 輸出;第一種方式:將 LDO 的輸出透過內部轉送至 ADC,並與預期值比較。第二種方式:使用獨立於 ADC 的硬體比較器,持續監控 LDO 相對於 IC 參考值的變化。若低於預設的閾值,則設置錯誤標示位元。因此,可在初始化期間對 LDO 進行評估,而且評估也可以持續進行,且不會持續消耗處理器資源。

為了進一步確信,可在一定程度上檢查用於監控電源供應的測試電路,即將測試電路的輸入接地 (標稱值為 0 V),然後檢查數位讀數。另外,透過檢查要求的 0.1 µF 解耦電容是否存在且已連接,AD7124 可進一步確保資料的完整性。方法是指示 AD7124 透過其內部開關中斷與解耦電容的實體連接,然後再檢查 LDO 輸出。若 LDO 的電壓下降,則解耦電容未通電。同樣地,這會設置錯誤標示位元。

當然,每個 IC 都有最高的額定溫度,若超過這個溫度,就會超出規格,甚至立即發生故障。因此 AD7124 內建有感測器,可隨時提供晶粒溫度讀數,其典型準確度為 ±0.5°C。

如何檢查數位錯誤?

截至目前為止,我們都在討論如何確保類比感測器或轉換功能的效能與準確度。然而,在電氣條件嚴苛的工業環境中會部署許多這類感測器,其中產生的問題包括雜訊、EMI/RFI,以及會對數位電子元件造成影響的暫態。因此,確保內部數位電路的效能,以及系統處理器的介面連結,以確定資料及任何讀寫作業的可靠度,便顯得相當重要。

AD7124 從以下操作及功能入手,透過多管齊下的方式達成這項要求:

  • 檢查主時脈的效能;在設定輸出數據傳輸率、濾波器趨穩時間,以及濾波器限波頻率時,需要用到主時脈。主時脈可透過獨立且可隨時回讀的向上計數暫存器進行檢查。
  • 透過特殊時脈計數器,檢查每個 SPI 讀寫操作使用的 SCLK 脈衝數。此數字應為 8 的倍數 (所有 SPI 操作均使用 8、16、32、40 或 48 個時脈脈衝)。
  • AD7124 檢查讀寫操作是否只定址有效的暫存器位址。

上述步驟僅解決內部操作,但無法確保處理器介面及其資料的完整性。為了提供極高可信度的資料,使用者可指示 AD7124 執行循環冗餘檢查 (CRC) 多項式核對和演算法。核對和可確保只有有效的資料才會寫進暫存器,並可驗證從暫存器讀取的資料 (圖 5)。請注意,核對和是具有高可信度的技術,甚至能偵測出單一位元的錯誤,但卻無法更正錯誤。

將基於多項式的 CRC 核對和加至 SPI 寫入與 SPI 讀取交易的示意圖 (按此放大)

圖 5:將基於多項式的 CRC 核對和加至 SPI 寫入 (左) 與 SPI 讀取 (右) 交易,可偵測單一位元錯誤。(圖片來源:Analog Devices)

啟用之後,此操作會計算資料區塊上的核對和,並將其附加至每個讀取與寫入交易的末尾。為確保暫存器寫入成功,暫存器需要進行回讀,以便將儲存的核對和與依據資料計算得來的核對和進行比較。

在電氣條件嚴苛的環境中,即使是記憶體也有可能發生位元錯誤。為了對晶片上暫存器的這類錯誤進行高階檢查,AD7124 每次都會針對以下情況的運算計算核對和:

  • 出現暫存器寫入週期時
  • 出現偏移/滿量程校正時
  • 元件執行單一轉換週期,且 ADC 在轉換完成後進入待機模式時
  • 退出持續讀取模式時

為了提升可靠度,還會對內部的唯讀記憶體 (ROM) 進行評估。當電源開啟時,所有暫存器都會初始化為預設值,並儲存在 ROM 中。此時也會對 ROM 內容進行 CRC 計算。若計算出來的值與儲存的 CRC 結果不同,則表示至少有一個位元存在錯誤。

此外,AD7124 還為許多類型的感測器提供激磁,同時透過放大器和 PGA 為感測器輸出訊號提供訊號調整和擴縮。為了提供極致的可靠度,AD7124 配備有多個內部暫存器,可用來進行初始化、建立所需的功能模式和參數,以及標示不同的錯誤和故障。

使用 AD7124 評估板開啟 AD7124 的設計之旅

AD7124 是一個複雜系統,具有許多設計的可能性及執行能力。此元件不是簡單的「隨拿隨用」感測器介面 IC。為方便設計人員學習並且快速熟悉各種潛在功能,Analog Devices 還提供 EVAL-CN0376-SDPZ 評估板 (圖 6)。

Analog Devices 的 EVAL-CN0376-SDPZ 評估板圖片

圖 6:EVAL-CN0376-SDPZ 評估板不僅能加快導入設計的速度,還可讓 AD7124 的各項功能與特性得到充分發揮。(圖片來源:Analog Devices)

此評估板包含所需的電源供應器及外部元件,可將 AD7124 連接到多種已經實際使用的感測器及處理器。此外,評估板由以 Windows 個人電腦為基礎的 CN-0376 評估軟體提供支援,而此軟體可透過 USB 埠進行通訊,從而設定並擷取評估板中的資料。

結論

許多關鍵的決策都是由系統處理器內嵌的先進演算法做出的;如今這種決策方式在許多實例中已透過人工智慧 (AI) 得到加強。現今,更加重視這些演算法採用的原始資料是否有高度完整性可供運算,並從中得出結論及採取行動。AD7124 之類的 IC 可大幅提升資料的可信度,確保訊號鏈的每個環節 (從引線與感測器介面一直到其本身的效能與功能) 都會依照預期目標運作,並且不會受到破壞。

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關於作者

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Bill Schweber

Bill Schweber 是電子產品工程師,至今已撰寫三本有關電子通訊系統的教科書,以及數百篇技術文章、評論專欄,及產品特色介紹。他曾擔任 EE Times 的多個特定主題網站的技術網站管理人,以及 EDN 的執行編輯和類比技術編輯。

在類比和混合式訊號 IC 領導廠商 Analog Devices, Inc. 任職期間,Bill 從事行銷溝通 (即公關) 職務,因此他在技術及公關職能兩個方面皆有實務經驗,能與媒體雙向交流公司產品、業務事例及傳遞訊息。

Bill 在加入 Analog 從事行銷溝通職務前,原在業界舉足輕重的技術期刊擔任副主編,也曾任職於該公司的產品行銷和應用工程團隊。在此之前,Bill 於 Instron Corp. 從事材料測試用機器控制的類比電路和電源電路設計以及系統整合。

他擁有麻薩諸塞大學電機工程碩士學位和哥倫比亞大學電機工程學士學位,為註冊專業工程師,並持有進階級業餘無線電執照。Bill 也曾就各類工程主題進行線上課程的規劃、撰寫及講授,包括 MOSFET 概論、ADC 的選擇以及驅動 LED。

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