EPCDESIGNTOOL 氮化鎵 (GaN) FET 設計工具
EPC 的設計工具屬於機械式晶粒,適合進行電子遷移與菊鏈測試
EPC 的 EPCDESIGNTOOL 裝置非常適合進行菊鏈與電子遷移測試提供多種晶粒尺寸。此電子遷移測試裝置的內部金屬層經過短路,可進行電子遷移可靠度測試。
菊鏈測試裝置適用於多種製程相關的測試,包括生命週期測試、墜落測試、熱測試,並可達到組裝流程最佳化。
特點
- 電子遷移測試裝置:
- 內部金屬層經過短路,可進行電子遷移可靠度測試
- 菊鏈測試裝置:
- 適用於多種製程相關的測試,包括生命週期測試、墜落測試、熱測試,並可達到組裝流程最佳化
- 菊鏈封裝採有線連接,可提供穿越封裝的連續路徑以便輕鬆進行測試
EPCDESIGNTOOL GaN FET Design Tools
| 圖片 | 製造商零件編號 | 說明 | 現有數量 | 價格 | 查看詳情 | |
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![]() | ![]() | EPCDESIGNTOOL_RP-DC | ENGR DIE FOR DAISY CHAIN | 0 - 即時供貨 | $4,630.48 | 查看詳情 |
![]() | ![]() | EPCDESIGNTOOL_XL-DC | ENGR DIE FOR DAISY CHAIN | 0 - 即時供貨 | $4,630.48 | 查看詳情 |
發佈日期: 2019-01-09




